返回
人工智能
已发布高精度工业视觉检测系统
武汉大学
技术描述
基于Transformer架构的工业缺陷检测系统，可识别微米级缺陷，漏检率低于0.1%。支持半导体、PCB、纺织等多行业。
应用场景
半导体、PCB、纺织、汽车零部件
关键词
机器视觉
缺陷检测
工业AI
团队信息
吴强
武汉大学
相关专利
一种大模型压缩方法及系统
CN202310123456.7
已授权边缘设备推理优化装置
CN202210654321.2
实质审查多硬件平台部署适配方法
CN202410789012.3
已申请
TRL评估
估值信息
620.0万
预期转让/许可价格
联系方式
tech-transfer@武汉.edu.cn
010-xxxxxxxx